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USB负载老化测试应用

来源:soundonmind.com    2019-03-27    作著:奥创电子设备
下面光电新产品是小编们生话的时候的一个分,中国电信手机同时也是离不了他们的生话,去且外边出去玩中国电信电源线模块是小编们的常备件。中国电信电源线模块质生孩子过程中中就必须用于USB装载测验,当下就跟亲们分享到USB装载老化试验测验采用。

测试移动电阻要用到USB负载测试器,而USB负载测试器中有个必不可少的配件,那就是负载电阻,我们经常用黄金铝壳电阻RX21线绕电阻水泥电阻,标称输出电压和电流(liu)分别(bie)为5V 1A,测(ce)试(shi)(shi)的(de)过程(cheng)要求在110V供电状况下(xia)满载(1A)测(ce)24个小时,过载(1.1-1.5倍额定电流(liu))再测(ce)24个小时,然后转到220V供电状态下(xia)再重复上面的(de)测(ce)试(shi)(shi)程(cheng)序各(ge)24小时,之后空载状态下(xia)短接V+?和V-30分钟,测(ce)试(shi)(shi)的(de)产品没(mei)问(wen)题才算合格。

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如果1次要脆化100个,全部抉择负载阻值阻值较重要,怕没有响应换劳烦,当我们应该用线绕阻值RX21-10W 5RJ,满负荷公测没难题,但超负荷公测的时期瞬时电压值咋也弄不及载荷系数瞬时电压值的1.1-1.5倍,我用到的措施是满负荷公测时用同一个据此技术参数的阻值,超负荷时用多个并接,通过欧姆运动定律,则并接时的阻值为另一个的二分之一,但在真正超负荷公测的时期,瞬时电压值许多就只能有1.18, 电压值则减退到2.89两边。
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